Soft error modeling, testing and hardening based on FinFETs
Last Updated Date 2025-04-24
- Course Sorts:先進製程IC設計人才培育計畫_晶片前瞻技術模組教材 ／ 113年度
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隨著半導體技術的進步，FinFET 已成為實現高效能邏輯電路的關鍵技術。然而，這項技術也帶來了新的可靠性挑戰，特別是在軟錯誤（soft error）方面。本模組將涵蓋針對 FinFET 為基礎的邏輯電路之軟錯誤建模、測試與防護方法。此外，學生將實際操作 EDA 工具，以學習基本的應用技術。本課程特別結合先進的 ADFP TN16 製程技術進行實作演練，進一步提升學習體驗。
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- 晶片前瞻技術模組教材-113-基於鰭式場效電晶體邏輯電路之軟性錯誤建模、測試與保護方法模組-講授及實作課程講義-1.pptx(2.47 MB)
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