基於鰭式場效電晶體邏輯電路之軟性錯誤建模及測試與保護方法模組
最後更新日期 2025-04-24
- 課程分類:先進製程IC設計人才培育計畫_晶片前瞻技術模組教材 ／ 113年度
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隨著半導體技術的進步，FinFET 已成為實現高效能邏輯電路的關鍵技術。然而，這項技術也帶來了新的可靠性挑戰，特別是在軟錯誤（soft error）方面。本模組將涵蓋針對 FinFET 為基礎的邏輯電路之軟錯誤建模、測試與防護方法。此外，學生將實際操作 EDA 工具，以學習基本的應用技術。本課程特別結合先進的 ADFP TN16 製程技術進行實作演練，進一步提升學習體驗。
課程附件
更新時間 2025-04-22 00:22:32
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