基於鰭式場效電晶體之記憶體測試方法
最後更新日期 2023-12-03
- 課程分類:晶片前瞻技術模組教材 ／ 晶片前瞻技術模組教材
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利用鰭式場效電晶體實現記憶體，能使記憶體的效能更高，同時也有效降低漏電流。然而此技術亦對於測試技術帶來了新的挑戰，包含新型態的defect以及對於過去以來發展已久的記憶體測試方法與可測試性設計(DFT)所帶來的影響。
由於基於鰭式場效電晶體的記憶體已成為現今高端電子產品，例如AI加速器電路、高效能CPU等的主流關鍵元件之一，了解此類記憶體在測試上的種種挑戰以及解決之道，例如fault models, 測試、修復與診斷方式，以及DFT技術開發，對於培養半導體產業所需的研發人才來說相當急迫。
本課程模組以問題導向學習方式，介紹基於鰭式場效電晶體記憶體所會遭遇的種種測試挑戰與解決方法，讓學生從一系列的實務問題中能描述、解釋以及應用此先進記憶體之測試方法。
課程附件
更新時間 2023-11-30 23:55:32
人氣 0 01_Fault Modeling of FinFET Based Memories
更新時間 2023-11-30 23:55:32
人氣 0 02_Test and Diagnosis Methods of FinFET Based Memories
更新時間 2023-11-30 23:55:32
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